電池缺陷測(cè)試儀B-LAB

簡(jiǎn)單描述：電池缺陷測(cè)試儀B-LAB：臺(tái)式潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀由Freiberg公司與德國(guó)FraunhoferCSP公司合作開發(fā)了一種可作為商業(yè)應(yīng)用的臺(tái)式太陽能電池和微型模塊的電勢(shì)誘導(dǎo)衰退控制的測(cè)量解決方案。
更新時(shí)間：2024-08-29
產(chǎn)品型號(hào)：

詳細(xì)介紹

電池缺陷測(cè)試儀B-LAB特點(diǎn)：

+ 符合IEC 62804-TS 標(biāo)準(zhǔn)

+ 易于使用的臺(tái)式設(shè)備

+ 能夠測(cè)量c-Si太陽能電池和微型模塊

+ 無需氣候室

+ 無需層壓電池

+ 測(cè)量速度:小時(shí)至數(shù)天

+ 可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度、溫度

+ 太陽能電池可以在以后通過EL等進(jìn)行研究

+ 基于IP的系統(tǒng)允許遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持從世界任何地方

電池缺陷測(cè)試儀B-LAB實(shí)驗(yàn)裝置：
照明PID試驗(yàn)

? 高壓只施加在背面[1,2,3,4]
? 干燥環(huán)境
? 玻璃是TCO（透明導(dǎo)電氧化物）涂層
→允許光傳輸（已申請(qǐng)patent）
? 條件
? LED光源照射200 W/m2
? 電壓U=1 kV，溫度85°C
? 持續(xù)24小時(shí)

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